小麦表型分析仪IN-XM05

小麦表型分析仪是针对小麦研究的高通量表型获取系统。它集成多光谱成像、激光雷达及自动化控制技术，可快速、无损、精确地批量测量小麦的株高、生物量、穗部性状、叶面积指数及胁迫响应等关键表型参数，为遗传育种、功能基因研究及精准栽培提供强大的数据支撑。

型号：IN-XM05

品牌：来因科技

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